適用產(chǎn)品:汽車(chē)LED燈類(lèi)
累計 位用戶(hù)好評
立即獲取報價(jià)
基本介紹
閂鎖(latchup)效應是描述半導體器件內發(fā)生的特殊類(lèi)型短路的一個(gè)術(shù)語(yǔ)。形成的寄生結構包含P道MOSFET和N溝MOSFET晶體管,從而導致寄生的PNPN結構產(chǎn)生。在MOSFET電路的電源供給線(xiàn)之間會(huì )意外形成一個(gè)低阻通路,導致進(jìn)入低電壓大電流狀態(tài)。這會(huì )導致功能中斷,并會(huì )產(chǎn)生熱奔、過(guò)電應力和封裝損壞。
適用產(chǎn)品范圍
汽車(chē)LED燈類(lèi)
檢測標準
AEC-Q100-004/JESD78
您正在瀏覽的是:倍科檢測的閂鎖效應的詳細內容,如果您對閂鎖效應的價(jià)格費用,閂鎖效應的認證流程感興趣,可以立即撥打點(diǎn)電話(huà)和我們聯(lián)系~
工作時(shí)間:9:00-18:00(節假日除外)
歡迎咨詢(xún)客服
倍科檢測:為全球進(jìn)出口企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)高效的檢測認證服務(wù),包括:日本TELEC認證、日本JATE認證、埃及NTRA認證和韓國KCC認證。
Copyright?倍科電子技術(shù)服務(wù)(深圳)有限公司 版權所有 粵ICP16089192號