固定式智能開(kāi)關(guān)的安規測試，在歐洲需要符合EN 60669-2-1, 隨著(zhù)IEC 60669-2-1:2021 的發(fā)布，相應的EN版本也會(huì )很快發(fā)布，在設計時(shí)需要注意核心元器件參數的選擇，特別是自整流負載。

如下情況需要注意：

? 在壽命測試方面，和傳統的機械開(kāi)關(guān)標準（IEC/EN 60669-1）不同，針對電子式開(kāi)關(guān)，自整流負載在IEC 60669-2-1:2021中，從250W擴充到400W,應用范圍更廣，測試更加嚴苛；

? 針對表104中容易測試失敗的地方，需要注意Ipeak電流，如果是MOS管燈電子開(kāi)關(guān)，特別是調光器產(chǎn)品，很容易在這個(gè)沖擊電流中壞掉，造成測試失敗。

同時(shí)如果內置了電流保險絲，因為這個(gè)沖擊沖擊電流比較大，也很容易失敗。

? 針對如上情況，有的廠(chǎng)家在性能要求不高的情況下，會(huì )使用繼電器作為負載斷開(kāi)裝置，那么也需要留意標準的負載短路測試，有可能會(huì )造成失敗。

101.4 Short circuit in the load circuit

The prospective short-circuit current of the supply shall be 1 500 A RMS at a voltage equal to the rated voltage of the electronic switch under test.

The prospective let-through I2t minimum value shall be 15 000 A2s.

從以上測試要求可以看出，I2t需要達到15 000 A2s，這種大能量測試時(shí)，因為繼電器的動(dòng)作時(shí)間相對比較慢，繼電器接點(diǎn)容易黏連，造成測試失敗。

如果貴司產(chǎn)品需要更多關(guān)于此標準的技術(shù)服務(wù)，歡迎咨詢(xún)，倍科會(huì )一如既往地為您提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)。